光譜儀檢測(cè)薄膜436

美國(guó)Chemplex樣品膜-436

      品名：XRF樣品膜Sample Film

      型號(hào)：CAT. NO：436

      品牌：美國(guó)Chemplex（*）

      貨期：現(xiàn)貨

      起訂量：1盒以上。

一、美國(guó)Chemplex XRF樣品膜：

美國(guó)Chemplex Industries有限公司從事樣品前處理設(shè)備、耗材研發(fā)和生產(chǎn)的公司，是X射線光譜儀（XRF）配件耗材領(lǐng)域的廠商。

Chemplex XRF樣品杯和樣品膜用于RoHS、WEEE測(cè)試儀器盛放小顆粒固體，粉末，液體，適用于各種品牌的X射線熒光光譜儀。Chemplex樣品膜薄膜張力特性，與樣品杯組合使用，適合盛放各類金屬重物、液體或粉末。Chemplex的許多XRF樣品杯、樣品薄膜被列為新穎*的設(shè)計(jì)和應(yīng)用，并被美國(guó)*商標(biāo)局授予知識(shí)產(chǎn)權(quán)地位。

     美國(guó)Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。

     X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè)，適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。

二、Chemplex 樣品膜特點(diǎn)：

   有卷狀和片狀，多種規(guī)格、尺寸、數(shù)量可供選擇；

   柔韌性強(qiáng)、方便、耐用；

   的X-ray射線穿透性，適合各類XRF光譜儀；

   的抗化學(xué)腐蝕性能，不溶于有機(jī)溶劑，不污染待測(cè)樣品；

   （幾乎不含）痕量雜質(zhì)，特別適合于輕質(zhì)元素的*檢測(cè)。

三、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場(chǎng)Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

四、XRF樣品膜目錄：

光譜儀檢測(cè)薄膜436

光譜儀檢測(cè)薄膜436